EM-AFM 納米操作系統提供了在SEM電鏡中原子力顯微鏡成像和定量測量納米力的能力。它可將SEM和AFM這兩種顯微技術進行聯用,提供高速高分辨率的3D形貌成像,以及微納米和亞納米尺度納牛力相互作用的實時觀測。